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ASTM F 533a-2002 硅片的厚度及厚度变化的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 07:03:26  浏览:9154   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforThicknessandThicknessVariationofSiliconWafers
【原文标准名称】:硅片的厚度及厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF533a-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;试验;垫圈;硅;厚度
【英文主题词】:testing;washers;electronicengineering;thickness;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:TestMethodforNonvolatileResidueofHalogenatedSolventExtractfromAerospaceComponents(UsingRotaryFlashEvaporator)
【原文标准名称】:从航空航天部件中提取的卤化溶剂的不挥发残渣的试验方法(使用旋转瞬间蒸发器)
【标准号】:ASTMF331-1998
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;试验;溶剂;电子工程;航空运输;残留物;航空航天运输
【英文主题词】:airtransport;aerospacetransport;testing;solvents;components;electronicengineering;residues
【摘要】:
【中国标准分类号】:V22
【国际标准分类号】:49_035
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Aerospaceseries-Circuitbreakers-Testmethods-Centrifugalacceleration
【原文标准名称】:航空航天系列.断路器.试验方法.离心式加速
【标准号】:BSEN3841-508-2005
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2005-02-22
【实施或试行日期】:2005-02-22
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验(质量保证);离心式加速;方法;航空航天运输;断路器;耐力;电气工程;开关;试验条件
【英文主题词】:
【摘要】:TobereadinconjunctionwithBSEN3841-100
【中国标准分类号】:V40
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语