NF C96-022-7-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量的测量和其他残余气体的分析

作者:标准资料网时间:2024-05-20 05:32:18 浏览:8313 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part7:internalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgases.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量的测量和其他残余气体的分析
【标准号】:NFC96-022-7-2002
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2002-12-01
【实施或试行日期】:2002-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;半导体;试验;气候;电子工程;集成电路;气候试验;机械试验;电学测量;电气工程;元部件;残余气体;含水量;半导体器件;电子设备及元件
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisturecontents;Residualgas;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:其他

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: BS ISO 16063-12-2002 校准振动和冲击传感器的方法.用往复式方法进行初级振动校准
下一篇: NF C96-013-6-12-2002 半导体装置的机械标准化.第6-12部分:表面安装半导体装置外形图绘制的一般规则.小节距栅极矩阵列的设计指南.矩形